为了提高产物Yb2SiO5纯度，在1300、1400和1500 ℃下延长保温时间至4 和6 h，研究保温时间对Yb2SiO5合成的影响。如图1 所示为纳米Yb2O3+ SiO2( 1% PVA) 分别在1300、1400 和1500 ℃保温2、4 和6 h 后产物XRD 图谱。
图1 纳米Yb2O3+SiO2在1300、1400 和1500 ℃保温不同时间产物XRD 图谱
根据XRD 图谱分析粉体各物相含量并计算粉体平均晶粒尺寸可以得知在1300 ℃ 随保温时间增加，产物中Yb2O3含量有所降低，在保温时间由2 h 延长至4 h 后Yb2O3含量为6. 2%，在保温6 h 后产物中Yb2O3含量降低至6. 0%，粉体平均晶粒尺寸随保温时间延长有一定增加，最大已达到91. 8 nm; 在1400 ℃随保温时间增加，产物中Yb2O3含量继续降低，但降低量很小，保温2、4 和6 h 后产物中Yb2O3含量分别为6. 0%、5. 8%、5. 6%，由此可见在1400 ℃下保温时间对产物物相影响不大，保温6 h 后产物中Yb2O3含量降低至5. 6%，粉体平均晶粒尺寸在90 nm 左右; 在1500 ℃保温2、4 和6 h 后产物中Yb2O3含量均保持在5. 5%不变，且粉体的平均晶粒尺寸在90 nm 左右，可以认为这是一个比较明显的标志，说明在1500 ℃下保温时间的延长对产物中Yb2O3含量无明显影响，应该通过考虑其他方法来尝试降低产物中Yb2O3含量。
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