计算机层析成像技术(Computed Tomography,简称CT)能在对检测物体无损伤的条件下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体内部的结构、组成、材质及缺损状况,是最佳的热障涂层分析手段之一。常规工业CT受分辨率的限制难以满足热障涂层微观结构的分析要求,高分辨率CT,包括微米CT、纳米CT、三维X射线显微镜(Three-dimensional X-rayMicroscopy,简称3D XRM)和同步辐射CT。其中纳米CT是目前发展最热门、成长最快的CT技术门类之一,能够以亚微米的细节分辨能力实现对被检测对象内部结构的三维成像,是新型的高分辨率三维成像技术。纳米CT具有与同步辐射类似的分辨率和图像衬度(最高达SOnm空间分辨率),体素可达16nm,超越了传统工业CT的限制,在热障涂层三维结构分析上具有潜在的应用前景。
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